Микроинтерферометр МИИ - 4М
Предназначен для измерения параметров шероховатости полированных и доведенных поверхностей, а также для измерения толщин пленок (высоты уступов, образованных краем пленки и подложки). Безконтактный оптический прибор предназначен для получения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света. Интерференционную картину можно наблюдать как в белом, так и в монохроматическом свете.
Автоматизированный интерференционный микропрофилометр АИМ
Предназначен для бесконтактного автоматического измерения микрорельефа поверхности, толщины тонких пленок, а также высотных и шаговых параметров шероховатости поверхности. Создан на базе микроинтерферометра МИИ-4М, широко используемого для промышленного контроля и измерений в металлообработке, микроэлектронике, производстве тонких пленок и т.д. Области применения: в промышленности, в биологии, в медицине.
Микротвердомер ПМТ-3М
Микротвердомер ПМТ - 3М предназначен для оценки структуры непрозрачных объектов по микротвердости методом вдавливания в испытуемый материал алмазных наконечников (Виккерса, Кнуппа, Берковича). Наблюдение изображения осуществляется при освещении по методам светлого и темного поля и в поляризованном свете. На микротвердомере можно проводить измерение диагоналей отпечатков с помощью микрометра МОВ-1-16х или фотоэлектрического окулярного микрометра ФОМ-2-16х.
